1. Ellipsometry of functional organic surfaces and films
المؤلف: Karsten Hinrichs, Klaus-Jochen Eichhorn, editors
المکتبة: كتابخانه و مركز اسناد دانشگاه كردستان (کردستان)
موضوع: ، Ellipsometry,، Physics,، Surface and Interface Science, Thin Films,، Surfaces and Interfaces, Thin Films,، Physical Chemistry,، Optics, Optoelectronics, Plasmonics and Optical Devices,، Characterization and Evaluation of Materials
رده :
QC443
![](/design/images/bookmore.png)
![](/design/images/visualshelfbtn.png)